提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过JEDEC、MIL-STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准
科睿检测可以提供完整的半导体产品可靠性试验项目，包含技术整合咨询、实验设计规划、硬件设计制作、可靠性试验、寿命预估等一站式服务，协助客户通过JEDEC、MIL-STD、AEC-Q等可靠性国际试验标准。
| 试验项目 | 试验内容 |
| 老化寿命试验 | 高温寿命试验、低温寿命试验、早天失效率试验等 |
| 环境应力试验 | 可靠度试验前处理、温度循环试验、温湿度偏压试验、高低温贮存试验、耐热性试验等 |
| 封装品质试验 | 焊锡性试验、沾锡天平试验 、推拉力试验、无铅制程试验等 |
| 可靠性测试项目 | 老化寿命试验、驱动芯片(Driver lC) MIP| 可靠性老化服务、环境试验、车用电子可靠性试验、产品寿命预估 |
进口检测设备、精锐科研团队、专业检测服务、快速检测周期
覆盖多行业领域经验丰富的 技术工程师，提供专业详细的技 术咨询和结果分析
拥有 高端自动一体及进口 检测设备，遵守业内检测规范 和标准，优先选用检测设备
设备多，人员多，为客户量身定做的 试验方案，保质降本，约定 时间完成检测，出具检测报告
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